微分干涉金相显微镜 DMM-1200C

微分干涉金相显微镜 DMM-1200C

DMM-1200微分干涉金相显微镜（DIC)采用优质的无限远光学系统，微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好,是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用;可进行明场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。

详细介绍技术参数

一、 DMM-1200C型微分干涉金相显微镜的主要用途和特点：

   DMM-1200微分干涉金相显微镜（DIC)采用优质的无限远光学系统，微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好,是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用;可进行明场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。

   DMM-1200C电脑型微分干涉金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、*光电转换技术、*的计算机成像技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像，并可随时拍摄记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。